Resumen

Los patrones de dominio magnético de cintas bilaminadas amorfas FeSiB/FeNbSiB y FeNbCuSiB/CoSiB son observados y analizados utilizando la microscopía Kerr magneto-óptica (MOKM) y la microscopía de fuerza magnética (MFM). Ambas técnicas microscópicas son altamente sensibles a la superficie de la muestra; la posibilidad de visualizar los dominios por separado en ambas capas mediante la microscopía Kerr se logra enfocando el punto láser en la sección transversal de la cinta. Se detectaron dominios amplios curvados, así como dominios finos de huella dactilar en la superficie de las cintas debido a la presencia de tensiones locales provenientes del proceso de preparación. Con respecto a la alta resolución lateral de la MFM y su sensibilidad a la magnetización fuera del plano, también se pueden seleccionar los patrones de dominio de rayas cruzadas magnetizadas perpendicularmente. El enrollado de las cintas en el soporte de muestra de extremo semir

• Materias:Conductos radiculares Microestructuras Baterías de iones Ensamblaje biomimético Microscopía
• Subjects:Root canals Microstructures Ion batteries Biomimetic assembly Microscopy
• Palabras claves:Patrones de dominios magnéticos; Microscopía magneto-óptica Kerr; Microscopía de fuerza magnética; Resolución lateral; Patrones de dominios de franjas cruzadas; Anisotropía magnética
• Keywords:Magnetic domain patterns; Magneto-optical Kerr microscopy; Magnetic force microscopy; Lateral resolution; Crossed stripe domain patterns; Magnetic anisotropy