Resumen

En este estudio, se investigó el efecto de los parámetros de Microscopía Electrónica de Barrido (SEM por sus siglas en inglés) como la magnificación (), el voltaje de aceleración () y la distancia de trabajo (WD) en la técnica de reconstrucción digital en 3D, como primer paso de la caracterización cuantitativa de superficies de fractura con SEM. Las imágenes en 2D fueron tomadas a través de un detector de Electrones Retrodispersados en 4 Cuadrantes (4Q-BSE). En este estudio, se utilizaron partículas esféricas de Ti-6Al-4V (15-45m) depositadas en un sustrato de silicio. Se observó que la distancia de trabajo tiene una influencia significativa en el método de reconstrucción digital en 3D a través de imágenes SEM. Los resultados mostraron que el mejor rango de distancia de trabajo para nuestro sistema es de 9 a 10mm. Se demostró que al aumentar la magnificación a 1000x, los resultados de reconstrucción digital en 3D mejoraron. Sin embargo, no hub

• Materias:Modelo esférico Aleaciones Efecto de amortiguación Membranas bioabsorbibles Adhesión de Nanopartículas
• Subjects:Spherical model Alloys Buffering effect Bioabsorbable membranes Nanoparticle adhesion
• Palabras claves:Estudio; Parámetros SEM; Aumento; Voltaje de aceleración; Distancia de trabajo; Reconstrucción digital 3D
• Keywords:Study; SEM parameters; Magnification; Accelerating voltage; Working distance; 3D digital reconstruction