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Conductive Atomic Force Microscopy Study of the Resistive Switching in Yttria-Stabilized Zirconia Films with Au NanoparticlesEstudio por microscopía de fuerza atómica conductiva de la conmutación resistiva en películas de óxido de circonio estabilizado con itria y nanopartículas de Au

Resumen

Informamos sobre la investigación de la conmutación resistiva (RS) en películas ultradelgadas (5 nm de grosor) de circonia estabilizada con itria (YSZ) con capas individuales de nanopartículas de oro (NPs) mediante microscopía de fuerza atómica conductiva (CAFM). Además de los lazos de histéresis tipo mariposa en las curvas de corriente-voltaje (-) del contacto de la sonda CAFM con la superficie de la película investigada correspondientes a la RS bipolar, se ha observado resistencia diferencial negativa (NDR) en las curvas de la sonda AFM en contacto con las películas de YSZ con NPs de Au en estado conductivo (ON). La NDR se ha relacionado con el túnel resonante de electrones a través de los estados energéticos cuantizados por tamaño en las ultrafinas (1 a 2 nm de diámetro) NPs de Au incorporadas en los filamentos conductivos en las películas de YSZ.

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