Resumen

Se realizó un estudio morfológico de sistemas ternarios que contenían epoxi, caucho natural injertado con PMMA y montmorillonita orgánica modificada químicamente (Cloisite 30B). Se utilizaron análisis de microscopía óptica, microscopía electrónica de transmisión (MET), microscopía electrónica de barrido (MEB), rayos X de energía dispersiva (EDX) y difracción de rayos X de ángulo amplio (WAXD). Se prepararon los cuatro materiales siguientes a temperatura ambiente: epoxi no modificado curado, epoxi endurecido curado, epoxi no modificado curado/nanocompuestos de Cloisita 30B y epoxi endurecido curado/nanocompuestos de Cloisita 30B. El proceso de mezcla se realizó mediante agitación mecánica. Se utilizó poli(eteramina) como agente de curado. Las imágenes TEM detalladas revelaron caucho esférico co-continuo y disperso en la mezcla de epoxi-caucho, lo que sugiere un nuevo mecanismo propuesto de separación de fases. El análisis TEM a gran aumento mostró buenas interacciones entre el caucho y la Cloisita 30B en el sistema ternario. Además, se observó que las partículas de caucho podían potenciar la separación de las capas de silicatos. Los análisis XRD y TEM confirmaron que se había logrado la intercalación de Cloisita 30B. No se observaron silicatos exfoliados distintos mediante TEM. Se observaron agregados de silicatos estratificados (tactoides) mediante SEM y EDX, además de TEM a bajo aumento. El análisis EDX confirmó la presencia de elementos orgánicos e inorgánicos en los sistemas epoxídicos binarios y ternarios que contenían Cloisite 30B.

• Materias:Biotecnología Análisis electroquímico Nanotecnología Nanopartículas Nanotubos
• Subjects:Biotechnology Electrochemical analysis Nanotechnology Nanoparticles Nanotubes
• Palabras claves:cloisita, tem, epoxi endurecido, epoxi no modificado, imágenes detalladas de tem, análisis de tem con aumento, sistemas epoxi ternarios, microscopía electrónica de transmisión, edx, sem
• Keywords:cloisite, tem, toughened epoxy, unmodified epoxy, detailed tem images, magnification tem analysis, ternary epoxy systems, transmission electron microscopy, edx, sem