Se implementó un método de transporte de vapor químico (CVT) para crecer cristales masivos de ZnO. Se llevaron a cabo estudios de difracción de rayos X (XRD), microscopía electrónica de barrido de emisión de campo (SEM) y microscopio óptico (OM) para caracterizar las propiedades de la superficie del cristal crecido. El resultado de XRD indicó que la interfaz sólido-vapor expuesta del cristal recién crecido estaba compuesta por caras (0001) y . Utilizando SEM y OM, observamos pequeñas pirámides hexagonales y microestructuras formadas por líneas cruzadas en el cristal recién crecido y encontramos pozos hexagonales de grabado térmico en las superficies de los cristales semilla. Se investigaron los mecanismos de formación, evolución y distribución de las microestructuras.
Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.
Artículo:
Un método eficaz para la obtención de imágenes de sondeos en túneles enterrados
Artículo:
Una nueva antena de anillo anular concéntrico de doble banda polarizada circularmente
Artículo:
Un conjunto de antenas multihaz basado en una lente Rotman impresa
Artículo:
Efecto de la irradiación con láser de fibra sobre la resistencia a la cizalladura entre la resina acrílica y el titanio
Artículo:
Un esquema completamente discreto basado en elementos finitos para el problema de corrientes inducidas