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X-Ray Reflectometry Study of Self-Assembled Ionic NanolayersEstudio por reflectometría de rayos X de nanocapas iónicas autoensambladas

Resumen

La técnica de autoensamblaje se ha aplicado a la fabricación de películas delgadas que incluyen moléculas macrocíclicas. Estas estructuras multicapa, crecidas por deposición secuencial de moléculas de carga opuesta, se caracterizaron con reflectometría de rayos X. Los datos obtenidos indican un espesor regular de las capas de pares iónicos formadas, independientemente del número de deposiciones realizadas, así como del número de grupos iónicos presentes en la molécula. Para el cálculo del espesor de las capas se utilizó el algoritmo de Savitzky-Golay. La formación de multicapas autoensambladas (SAM) se produce no sólo en estructuras poliméricas, sino también en pequeños sistemas de compuestos iónicos, y es el resultado de la interacción electrostática de muchas cargas fuertemente disipadas en toda la estructura de la molécula.

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