Resumen

La motivación de esta investigación es explorar la posibilidad de utilizar la capacidad del perfil de profundidad de XPS para estudiar las interfaces después de las pruebas de las pilas de botón SOFC. En la literatura se utiliza la XPS para estudiar diversos materiales de cátodo, pero se ha dedicado poco a la comprensión de diversas interfaces de cátodo, especialmente después de las pruebas. En este trabajo, primero se prueba una pila de botón SOFC, y luego, el cátodo LSCF, la capa de barrera, y el electrolito son pulverizados para estudiar el comportamiento de las diferentes interfaces. Este trabajo ha demostrado que algunos elementos se han desplazado a otras capas de la pila SOFC. Se argumenta que la migración de los elementos se debe en parte a un mecanismo de redeposición después de que los átomos sean eliminados por sputtering, mientras que el resto se debe a la interdifusión entre las capas de SDC y YSZ. Sin embargo, es necesario realizar trabajos adicionales para comprender mejor el mecanismo por el que los átomos se desplazan en las diferentes interfaces. El rendimiento electroquímico de la célula también se discute con algunos detalles, pero no es el centro de atención.

• Materias:Polímeros Campos electromagnéticos Hornos de cemento Poliuretanos Nanopartículas Cemento
• Subjects:Polymers Electromagnetic fields Cement kilns Polyurethanes Nanoparticles Cement
• Palabras claves:pila de botón sofc, diferentes interfaces, capacidades de xps, pruebas de pila de botón, diferentes interfaces de cátodo, capacidades de perfil de profundidad, diferentes materiales de cátodo, pila sofc, trabajo adicional, cátodo lscf
• Keywords:sofc button cell, different interface, capabilities of xps, button cell testing, various cathode interface, depth profile capabilities, various cathode material, sofc cell, additional work, lscf cathode