Resumen

La microscopía electrónica de barrido (SEM) juega un papel importante en la comprensión intuitiva de las microestructuras porque puede proporcionar una magnificación ultracualta. Decenas o cientos de imágenes se generan y guardan regularmente durante un proceso típico de imágenes microscópicas. Dada la subjetividad de la operación de enfoque de los microscopistas, la falta de nitidez es una distorsión importante que degrada la calidad de las microfotografías. La selección de microfotografías de alta calidad mediante métodos subjetivos es costosa y consume mucho tiempo. Este estudio propone un nuevo método de evaluación de calidad sin referencia para evaluar la falta de nitidez de las microfotografías de SEM. El sistema visual humano es más sensible a las distorsiones de los componentes de dibujos animados que a las de los componentes texturizados redundantes según la psicología de la percepción de Gestalt y la propiedad de enmascaramiento de entropía. Inicialmente, las microfotografías se descomponen en componentes de

• Materias:Cemento Microscopia electrónica Extremo radicular Escáner intraoral Fuerza adhesiva
• Subjects:Cement Electron microscopy Root end Intraoral scanner Adhesive strength
• Palabras claves:Microscopía electrónica de barrido; Microestructuras; Desenfoque; Método de evaluación de la calidad; Mapas de nitidez; Puntuaciones subjetivas
• Keywords:Scanning electron microscopy; Microstructures; Blurriness; Quality assessment method; Sharpness maps; Subjective scores