Biblioteca122.294 documentos en línea

Artículo

Image Quality Assessment of a CMOS/Gd2O2S:Pr,Ce,F X-Ray SensorEvaluación de la calidad de imagen de un sensor de rayos X CMOS/Gd2O2S:Pr,Ce,F

Resumen

El objetivo del presente estudio era examinar las prestaciones de calidad de imagen de un sensor óptico CMOS de imagen digital acoplado a centelleadores de polvo de oxisulfuro de gadolinio fabricados a medida, dopados con praseodimio, cerio y flúor (Gd2O2S:Pr,Ce,F). Las pantallas, con espesores de recubrimiento de 35,7 y 71,2 mg/cm2, se prepararon en nuestro laboratorio a partir de polvo de Gd2O2S:Pr,Ce,F (Phosphor Technology, Ltd.) por sedimentación sobre sustratos de sílice y se colocaron en contacto directo con el sensor óptico. La calidad de la imagen se determinó mediante parámetros dependientes del índice único (capacidad de información, CI) y de la frecuencia espacial, evaluando la función de transferencia de modulación (MTF) y el espectro de potencia de ruido normalizado (NNPS). La MTF se midió utilizando el método del borde inclinado. Las combinaciones de sensor CMOS/pantallas Gd2O2S:Pr,Ce,F se irradiaron con la calidad de haz RQA-5 (IEC 62220-1). La función de respuesta del detector fue lineal para el rango de exposición investigado. En las condiciones generales de radiografía, ambas combinaciones Gd2O2S:Pr,Ce,F pantalla/CMOS mostraron propiedades de imagen moderadas, en términos de IC, con centelleadores publicados anteriormente, como CsI:Tl, Gd2O2S:Tb, y Gd2O2S:Eu.

  • Tipo de documento:
  • Formato:pdf
  • Idioma:Inglés
  • Tamaño: Kb

Cómo citar el documento

Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.

Este contenido no est� disponible para su tipo de suscripci�n

Información del documento