Resumen

Se investigó la evolución estructural de una película delgada de copolímero dibloque de bajo peso molecular de poli(óxido de etileno)-poliestireno (PEO-PS) con diversas espesores iniciales de película sobre sustrato de silicio bajo recocido térmico mediante microscopía de fuerza atómica, microscopía óptica y medición del ángulo de contacto. A un espesor de película por debajo de la mitad del espaciado interlamelar del copolímero dibloque (6.2 nm), todo el silicio está cubierto por un cepillo de polímero con bloques de PEO anclados en el sustrato de Si debido al efecto inducido por el sustrato. Cuando la película es más gruesa que 6.2 nm, se formó un cepillo de polímero denso que es igual a la mitad de una capa interlamelar en el silicio, mientras que el material excedente despega esta capa para formar gotas. La superficie de la gota

• Materias:Robots Cuidados pediátricos Experimentos numéricos Radares Factores psicológicos
• Subjects:Robot Pediatric care Numerical experiments Radars Psychological factors
• Palabras claves:Evolución; Peso molecular bajo; Copolímero; Película delgada; Recocido; Silicio
• Keywords:Evolution; Low-molecular-weight; Copolymer; Thin film; Annealing; Silicon