Este artículo explora la capacidad de las técnicas de microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) para determinar el grado de dispersión de las capas de grafeno dentro de la matriz de carbono mediante el uso de imágenes simuladas de campo oscuro anular de alto ángulo (HAADF). Los resultados aseguran que las capas de grafeno no marcadas sólo son detectables si su orientación es paralela al haz del microscopio. Además, las capas de grafeno marcadas con oro permiten evaluar el grado de dispersión en los compuestos estructurales. Por otra parte, se ha demostrado que la tomografía electrónica proporciona una distribución tridimensional veraz de las láminas de grafeno dentro de la matriz cuando se utiliza un algoritmo de reconstrucción adecuado y proyecciones bidimensionales que incluyen el efecto de canalización.
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