Resumen

El diagnóstico de fallos en circuitos analógicos se ha convertido en un factor importante para mejorar la fiabilidad de los circuitos integrados debido a su carácter insustituible en los circuitos integrados modernos. De hecho, el diagnóstico de fallos basado en algoritmos inteligentes se ha convertido en un tema de investigación muy popular, ya que la extracción y selección eficiente de características es una tarea crítica e intrincada en el diagnóstico de fallos analógicos. Además, es extremadamente importante proponer algunas directrices generales para la extracción y selección óptimas de características. En este trabajo, basándonos en el análisis wavelet, estudiaremos los problemas de selección de wavelets madre, número de niveles de descomposición y selección de coeficientes candidatos utilizando un circuito de filtro biquad de cuatro amplificadores. Tras realizar varios experimentos comparativos, se derivan algunas directrices generales para la extracción de características para este tipo de diagnóstico de fallos en circuitos analógicos.

• Materias:Análisis Matemático Matemáticas Algebra Ingeniería Lógica matemática
• Subjects:Mathematical Analysis mathematics Algebra Engineering Mathematical logic
• Palabras claves:Diagnóstico de averías; circuito analógico; circuito integrado; algoritmos inteligentes; extracción de características; selección.
• Keywords:Fault diagnosis; analog circuit; integrated circuit; intelligent algorithms; feature extraction; selection