Se fabricaron recubrimientos antirreflectantes (AR) basados en diamante utilizando un recubrimiento por centrifugación de suspensión de diamante a temperatura ambiente como procedimiento de mejora de la nucleación y deposición química en fase vapor mejorada por plasma de microondas. Se utilizaron diversas presiones de trabajo para investigar su efecto sobre la caracterización óptica de las películas de diamante depositadas. Se emplearon microscopía electrónica de barrido (SEM) y microscopía atómica forzada (AFM) para analizar las propiedades superficiales de las películas de diamante. También se utilizaron espectros Raman y microscopía electrónica de transmisión (MET) para analizar la microestructura de las películas. Los resultados mostraron que la presión de trabajo tenía un efecto significativo sobre el espesor, la rugosidad superficial y la humectabilidad de las películas de diamante depositadas. Depositada a 35 Torr o presión de trabajo, la película poseía una baja rugosidad superficial de 13,8 nm y un fino tamaño de grano de diamante de 35 nm. Las medidas de reflectancia de las películas también se llevaron a cabo utilizando un espectrómetro UV-Vis y revelaron un bajo valor de reflectancia de las películas de diamante. Estos resultados demuestran la viabilidad del procedimiento de recubrimiento por rotación propuesto para la producción a gran escala y, por tanto, abren una perspectiva de aplicación de la película de diamante como recubrimiento AR en dispositivos optoelectrónicos industriales.
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