Resumen

La determinación de la composición química junto con la obtención de imágenes a nivel atómico proporciona información crítica para la comprensión fundamental de la superficie de los materiales y, por tanto, permite diseñar nuevos materiales adaptando sus funcionalidades finales. La microscopía de barrido en túnel asistida por rayos X de sincrotrón (SX-STM) es una técnica nueva y prometedora para obtener mapas atómicos químicamente específicos en el espacio real. La sensibilidad química de la SX-STM se basa en la excitación de los electrones del núcleo por los rayos X incidentes cuando su energía se ajusta a un borde de absorción de un elemento concreto. Sin embargo, junto con los electrones del núcleo también se excitan fotoelectrones, que generan corriente adicional e interfieren con la corriente de túnel. Para reducir la corriente de fotoelectrones de fondo y mejorar la resolución final de la SX-STM, hemos desarrollado y fabricado "puntas inteligentes" basadas en nanotubos de carbono multipared (MWCNT) mediante deposición química de vapor mejorada por plasma y fresado por haz de iones focalizado. Las nuevas puntas inteligentes basadas en CNT, caracterizadas paso a paso mediante microscopía electrónica de barrido (SEM) durante el proceso de fabricación, demuestran un buen rendimiento y brindan la oportunidad de realizar cartografía química atómica.

• Materias:Biotecnología Análisis electroquímico Nanotecnología Bioingeniería Nanoestructuras Nanocompuestos
• Subjects:Biotechnology Electrochemical analysis Nanotechnology Bioengineering Nanostructures Nanocomposites
• Palabras claves:stm, puntas inteligentes, fresado por haz de iones focalizado, cartografía química atómica, corriente fotoelectrónica de fondo, deposición química en fase vapor, nueva técnica prometedora, cartografía atómica específica, paso, sensibilidad química
• Keywords:stm, smart tips, focused ion beam milling, atomic chemical mapping, background photoelectron current, chemical vapor deposition, promising new technique, specific atomic mapping, step, chemical sensitivity