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Diode-Laser Induced Fluorescence Spectroscopy of an Optically Thick Plasma in Combination with Laser Absorption SpectroscopyEspectroscopia de fluorescencia inducida por láser de diodo de un plasma ópticamente espeso en combinación con espectroscopia de absorción láser

Resumen

La distorsión de los perfiles de fluorescencia inducida por láser atribuibles a la absorción óptica y al ensanchamiento por saturación fue corregida en combinación con la espectroscopía de absorción láser en el flujo de plasma de argón. A alta intensidad del láser sonda, se midieron perfiles de absorción saturada para corregir la absorción del láser sonda. A baja intensidad del láser, se midieron perfiles de absorción no saturada para corregir la reabsorción de la fluorescencia. El ensanchamiento por saturación en el punto de medición fue corregido utilizando una relación de ensanchamiento saturado a no saturado. El ensanchamiento de LIF observado y la temperatura de translación correspondiente sin corrección fueron, respectivamente, GHz y K, y el ensanchamiento y la temperatura corregidos fueron, respectivamente, GHz y K. Aunque esta corrección es aplicable solo en el centro de simetría, la temperatura deducida concordó bien con la obtenida por LAS con inversión de Abel.

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