En este trabajo, proponemos un método de iluminación estructurada (SI) basado en un haz láser de barrido de excitación de dos fotones (TPE). Las ventajas de los métodos TPE incluyen el seccionamiento óptico, la baja fototoxicidad y la robustez frente a la dispersión inducida por la muestra. Hemos diseñado una nueva función de dispersión puntual (PSF) multipunto para un microscopio SIM de barrido bifotónico rápido. Nuestra PSF multipunto se genera con un algoritmo de recuperación de fase. Mostramos cómo obtener la distribución de fase y luego simular el efecto de esta distribución en un modulador espacial de luz (SLM), que produce la PSF multipunto en el plano del objeto del microscopio. Realizamos simulaciones que demuestran la viabilidad de este método. Se simulan los resultados y se propone un microscopio SIM de barrido PSF multipunto.
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