Este artículo trata de identificar los factores clave de los revestimientos de plata (Ag) altamente reflectantes. Se investigó la orientación del cristal y la rugosidad de la superficie, utilizando varios tipos de superficies, incluyendo películas de policristal de Ag electrodepositadas, películas de policristal de Ag depositadas por vapor físico y láminas de Ag monocristalina con diferentes orientaciones del cristal. En cada tipo de superficie se varió la rugosidad de la misma, de modo que, para diferentes combinaciones de orientación de los cristales, la rugosidad dilucidara los factores clave para obtener recubrimientos de Ag altamente reflectantes. Se ha encontrado que la rugosidad de la superficie juega un papel crítico en la determinación de la reflectancia, mientras que la orientación del cristal tiene un efecto insignificante. La reflectancia media y el análisis ANOVA de una vía indican que las láminas de Ag monocristalinas con tres orientaciones se comportaron estadísticamente igual en el mismo grupo de rugosidad al nivel de significación α = 0,05. Además, se ha propuesto una correlación entre la reflectancia superficial y la rugosidad de la superficie en beneficio del diseño del recubrimiento. Los datos de reflexión obtenidos de las muestras de plata policristalina se utilizan para verificar la exactitud de las correlaciones propuestas. Se observó que la relación de área superficial de desarrollo, Sdr, es un mejor indicador de la rugosidad para predecir la reflectancia de las películas de plata policristalina que la rugosidad media aritmética, Ra.
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