Resumen

La monitorización de la salud estructural con películas finas piezoeléctricas integradas en metales estructurales presenta grandes ventajas para aplicaciones potenciales. Sin embargo, la integración de películas delgadas piezoeléctricas en metales estructurales sigue siendo un reto. En este trabajo, presentamos las películas delgadas piezoeléctricas de titanato de bario [BaTiO3 (BTO)] depositadas sobre sustratos policristalinos de Ni mediante el método de deposición asistida por polímeros (PAD) utilizando NiOx como capas tampón. Las capas tampón de NiOx con diferentes espesores se prepararon variando el tiempo de inmersión de 5 minutos a 4 horas en solución de H2O2. Las propiedades dieléctricas y de corriente de fuga de las películas delgadas se han estudiado mediante sistemas de ensayo generales. La heteroestructura de BTO/Ni con un tiempo de inmersión de 2 horas presenta mejores propiedades dieléctricas, con una constante dieléctrica superior a 1500 y una disminución de 34,8 de la pérdida dieléctrica en comparación con la de 5 minutos de inmersión. Los resultados muestran que la densidad de corriente de fuga se ve muy afectada por el grosor de la capa tampón de NiOx. Los mecanismos de conducción de la heteroestructura BTO/Ni se han analizado en función de las curvas características J-V.

• Materias:Biotecnología Análisis electroquímico Nanotecnología Bioingeniería Nanoestructuras Nanocompuestos
• Subjects:Biotechnology Electrochemical analysis Nanotechnology Bioengineering Nanostructures Nanocomposites
• Palabras claves:láminas delgadas piezoeléctricas, bto, heteroestructura ni, láminas delgadas, capa amortiguadora niox, capas amortiguadoras niox, control de la salud estructural, curvas características v, mejores propiedades dieléctricas, sistemas generales de ensayo
• Keywords:piezoelectric thin films, bto, ni heterostructure, thin films, niox buffer layer, niox buffer layers, structural health monitoring, v characteristic curves, better dielectric properties, general test systems