Resumen

Se han sintetizado partículas nanocristalinas de TiO2 dopadas con diferentes concentraciones de cerio (Ce, 1-10%) mediante el método sol-gel. Las partículas preparadas se caracterizaron mediante técnicas analíticas estándar como difracción de rayos X (DRX), FTIR y microscopía electrónica de barrido (MEB), y microscopía electrónica de transmisión (MET). El análisis XRD no muestra cambios en la estructura cristalina del TiO2 tras el dopaje con diferentes concentraciones de Ce, lo que indica que se trata de un material policristalino monofásico. El análisis SEM muestra la naturaleza parcialmente cristalina del TiO2 dopado y no dopado, y el análisis TEM muestra que el tamaño de las partículas estaba en el rango de 9-14 nm. El análisis de c.a. muestra que la constante dieléctrica ε y la pérdida dieléctrica tan δ disminuyen con el aumento de la frecuencia. La propiedad dieléctrica disminuye con el aumento de la concentración de dopante. También se observa que la impedancia aumenta con el incremento de la concentración de dopante. La actividad fotocatalítica de las partículas sintetizadas (TiO2 dopado con Ce) con una concentración de dopante del 9% (Ce) mostró la mayor actividad fotocatalítica para la degradación del colorante derivado Remazol Brilliant Blue R en un reactor fotoquímico de pozo de inmersión con lámpara lineal halógena de 500 W en presencia de oxígeno atmosférico.

• Materias:Energía solar Fotoquímica Fotocatálisis Nanoestructuras Optoelectrónica
• Subjects:Solar energy Photochemistry Photocatalysis Nanostructures Optoelectronics
• Palabras claves:concentración de dopante, tio2, aumento, diferentes concentraciones, pérdida dieléctrica tan δ disminución, azul brillante r, partículas nanocristalinas de tio2, microscopía electrónica de barrido, microscopía electrónica de transmisión, constante dieléctrica ε
• Keywords:dopant concentration, tio2, increase, different concentrations, dielectric loss tan δ decrease, brilliant blue r, nanocrystalline tio2 particles, scanning electron microscopy, transmission electron microscopy, dielectric constant ε