Se prepararon con éxito películas delgadas nanocristalinas de Sb37.07Mn1.95Se60.98 con diferentes espesores (7, 20, 40 y 80 nm) mediante la técnica de condensación en gas inerte. Las películas depositadas mostraron una estructura amorfa mediante la técnica de difracción de rayos X de incidencia rasante en el plano (GIIXD). Todas las películas de diferentes espesores se trataron térmicamente a 433 K durante 90 minutos. El patrón GIIXD de las películas recocidas mostró una estructura ortorrómbica nanocristalina. Se estudió el efecto del grosor de las películas recocidas sobre la estructura y las propiedades ópticas. Los tamaños de partícula calculados son 20,67 y 24,15 para espesores de 40 y 80 nm de las películas tratadas térmicamente. Las imágenes del microscopio electrónico de transmisión de alta resolución HRTEM y sus patrones de difracción demostraron que el espesor de la película de 40 nm recocida a diferentes temperaturas tiene naturaleza nanocristalina con cristalinidad observada (alta) que aumenta con la temperatura de recocido. Se observó un desplazamiento azul de la brecha de energía óptica de 1,68 a 2 eV con la disminución del espesor de la película de 80 a 7 nm. Se expuso una película de 40 nm de espesor a diferentes temperaturas de tratamiento térmico de 353 a 473 K para detectar su efecto sobre la estructura y las propiedades ópticas y eléctricas. Se observó un desplazamiento azul de 1,73 a 1,9 eV en su banda de separación óptica debido a una transición directa al disminuir la temperatura de tratamiento térmico de 473 a 353 K. Se estudió la conductividad eléctrica de diferentes películas tratadas térmicamente de 40 nm de grosor, y el mecanismo de conducción intrínseco es el dominante. La energía de activación Ea se vio afectada por el proceso de tratamiento térmico.
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