Resumen

Los aceros microaleados tienen una amplia aplicación en carrocerías de automóviles y otras piezas de ingeniería debido a su gran resistencia y ductilidad. La combinación de resistencia y ductilidad se debe a una microestructura de grano muy fino. Se ha informado de que el enfriamiento repetido conduce a un mayor refinamiento de la microestructura. En la presente investigación, se han estudiado las propiedades de resistencia a la corrosión del acero de microaleación E34 en una solución de NaCl al 3,5% en diferentes condiciones microestructurales, como la de laminado y la de enfriamiento rápido repetido. Se han utilizado técnicas de pérdida de peso, método de polarización potenciodinámica y espectroscopia de impedancia electroquímica (EIS). Para revelar la resistencia a la corrosión de los diferentes aceros tratados, se analizaron y compararon algunos parámetros de caracterización significativos como Ecorr, Icorr, Rp y Rct en las curvas de polarización lineal y EIS. Se ha observado que, con la recristalización repetida, los granos se hacen más finos y aumenta la velocidad de corrosión, lo que sugiere que debe alcanzarse un compromiso entre las propiedades mecánicas y la velocidad de corrosión.

• Materias:Reacciones químicas Biología molecular Química farmacéutica Química analítica Química de los alimentos
• Subjects:Chemical reactions Molecular biology Chemistry pharmaceutical Analytical chemistry Food chemistry
• Palabras claves:acero microaleado e34, aumento de la velocidad de corrosión, propiedad de resistencia a la corrosión, diferentes condiciones microestructurales, espectroscopia de impedancia electroquímica, alta propiedad mecánica, otras piezas de ingeniería, método de polarización potenciodinámica, parámetros de caracterización significativos, curvas eis
• Keywords:e34 microalloy steel, corrosion rate increases, corrosion resistance property, different microstructural conditions, electrochemical impedance spectroscopy, high mechanical property, other engineering parts, potentiodynamic polarization method, significant characterization parameters, eis curves