Resumen

En este trabajo, hemos realizado un análisis cualitativo y cuantitativo de las superficies de las películas delgadas de LuMnO3, depositadas mediante spin coating sobre sustratos de Pt(111)/TiO2/SiO2/Si, para evaluar sus patrones espaciales en función de la temperatura de sinterización de la película. Se empleó la microscopía de fuerza atómica para obtener mapas topográficos que se analizaron exhaustivamente mediante técnicas de procesamiento de imágenes y herramientas matemáticas. Las imágenes topográficas 3D (tridimensionales) revelaron que las películas sinterizadas a 650°C y 750°C presentaban la formación de superficies más lisas, mientras que la película sinterizada a 850°C mostraba una superficie más rugosa con una rugosidad media cuadrática de ∼2,5 nm. Por otro lado, la distribución de la altura de la superficie para todas las películas tiene asimetrías y forma similares, aunque la película sinterizada con la temperatura más alta mostró la menor densidad de picos de rugosidad y una forma de pico más aguda. Los parámetros fractales avanzados revelaron que la película sinterizada a 850°C está dominada por frecuencias espaciales bajas, mostrando una menor complejidad espacial, una mayor homogeneidad de la microtextura y una distribución de altura uniforme. Estos resultados sugieren que la combinación de parámetros estereométricos y fractales puede ser especialmente útil para la identificación de patrones espaciales topográficos únicos en las películas delgadas de LuMnO3, ayudando a su implementación en aplicaciones tecnológicas, como células solares fotovoltaicas y dispositivos de almacenamiento de datos magnéticos y espintrónicos.

• Materias:Análisis de suelos Hormigón Construcciones de hormigón Asfalto
• Subjects:Soil testing Concrete Concrete construction Asphalt
• Palabras claves:película, distribución de altura, combinación de estereometría, mayor homogeneidad de microtextura, microscopía de fuerza atómica, análisis de lumno3, baja frecuencia espacial, superficie de película delgada, parámetros fractales avanzados, célula solar fotovoltaica
• Keywords:film, height distribution, combination of stereometric, higher microtexture homogeneity, atomic force microscopy, analysis of lumno3, low spatial frequency, thin film surface, advanced fractal parameters, photovoltaic solar cell