Resumen

El artículo se centra en el estudio de las propiedades ópticas de capas de óxido de grafeno (GO) impresas por inyección de tinta mediante elipsometría espectroscópica. Debido a sus propiedades ópticas y eléctricas únicas, el GO puede utilizarse, por ejemplo, como material de electrodos transparente y flexible en electrónica orgánica e impresa. La elipsometría espectroscópica se utilizó para caracterizar la respuesta óptica de la capa de GO y su forma reducida (rGO, obtenible, por ejemplo, por reducción de las capas preparadas mediante recocido, radiación UV o reducción química) en el rango visible. Los espesores de las capas se determinaron mediante un perfilómetro mecánico y se utilizaron como parámetro de entrada para el modelado óptico. Se analizaron los espectros elipsométricos según el modelo de dispersión y se discute la influencia de la reducción del GO en las constantes ópticas. Así, el análisis detallado de los datos elipsométricos proporciona una herramienta única para la descripción cualitativa y también cuantitativa de las propiedades ópticas de las películas delgadas de GO para aplicaciones electrónicas.

• Materias:Análisis electroquímico Nanotecnología Nanopartículas Nanotubos Nanomateriales
• Subjects:Electrochemical analysis Nanotechnology Nanoparticles Nanotubes Nanomaterials
• Palabras claves:propiedades ópticas, material de electrodo flexible, ejemplo, capas, reducción, espectros elipsométricos, capa go, elipsometría espectroscópica, radiación uv, reducción química
• Keywords:optical properties, flexible electrode material, example, layers, reduction, ellipsometric spectra, go layer, spectroscopic ellipsometry, uv radiation, chemical reduction