El reconocimiento de patrones es una herramienta analítica importante en el análisis de electrofacies. En este artículo, estudiamos varios algoritmos de agrupamiento y clasificación comúnmente utilizados. Sobre la base de las ventajas y desventajas de los algoritmos existentes, presentamos el algoritmo KMRIC, que mejora los centros iniciales de -means. Además, proponemos el algoritmo AKM que determina automáticamente el número de clústeres y aplicamos la máquina de vectores de soporte a la clasificación. Finalmente, aplicamos estos algoritmos al análisis de electrofacies, donde se llevan a cabo experimentos en conjuntos de datos del mundo real para comparar los méritos de varios algoritmos.
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