Resumen

Para mejorar la movilidad de efecto de campo de los transistores de película fina orgánica (OTFT) impresos por chorro de tinta, se creó un material compuesto formado por nanopartículas de carbono (CNP) y poli(3-hexiltiofeno) (P3HT) mediante un sistema de impresión por chorro de tinta casero. Estos OTFTs compuestos impresos por chorro de tinta representaron características superiores en comparación con los OTFTs de P3HT prístinos impresos por chorro de tinta. Para investigar el mecanismo de mejora de los materiales mezclados, se estableció el modelo de percolación y se verificó experimentalmente para ilustrar la mejora de las propiedades eléctricas con diferentes concentraciones de mezcla. Además, los resultados experimentales de las resistencias de contacto de los OTFTs mostraron que tanto la resistencia de contacto como la resistencia de canal se redujeron a la mitad. Al mismo tiempo, también se realizaron mediciones de difracción de rayos X, espectros de infrarrojos por transformada de Fourier, luz ultravioleta-visible y espectros de fotoluminiscencia para aclarar los efectos de la mezcla de materiales. Por lo tanto, este estudio demuestra el potencial y la orientación de los materiales nanocompuestos a base de carbono en la electrónica orgánica impresa con chorro de tinta.

• Materias:Propiedades fisicoquímicas Materiales compuestos Fotocatálisis Pavimentos Sistema cuántico
• Subjects:Chemicophysical properties Composite materials Photocatalysis Floors Quantum system
• Palabras claves:diferentes concentraciones de mezcla, transistor de película fina, directrices del carbono, otfts compuestos impresos, otfts p3ht prístinos, efectos de mezcla de materiales, material nanocompuesto basado, electrónica orgánica impresa, p3ht prístino impreso, medición de difracción de rayos
• Keywords:different blending concentration, thin film transistor, guidelines of carbon, printed composite otfts, pristine p3ht otfts, material blending effects, based nanocomposite material, printed organic electronics, printed pristine p3ht, ray diffraction measurement