Se ha estudiado el mecanismo de disolución transpasiva del acero inoxidable AISI 321 en una solución de sulfato 0,5 M mediante espectroscopia de impedancia electroquímica (EIS). A partir de los resultados experimentales, la aproximación de la carga superficial y el modelo de defecto puntual, se propone un modelo cinético del proceso de disolución transpasiva. La película transpasiva se modela como una estructura semiconductora altamente dopada de tipo n-insulador-semiconductor de tipo p. La inyección de defectos negativos en la interfase película transpasiva/solución da lugar a su acumulación como carga superficial negativa. Altera la tasa de crecimiento no estacionaria de la película transpasiva controlada por el transporte de defectos positivos (vacantes de oxígeno). El modelo describe el proceso como disolución de Cr como Cr (VI) y de Fe como Fe (III) a través de la película transpasiva mediante vías de reacción paralelas.
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