Resumen

Simplificando el problema de tolerancia y tratando las tensiones defectuosas en diferentes puntos de prueba como variables independientes, se propone la técnica de tabla de código entero para simplificar el proceso de selección del punto de prueba. Normalmente, la simplificación del problema de tolerancia puede inducir a una solución errónea, mientras que el supuesto de independencia dará lugar a un resultado excesivamente conservador. Para hacer frente a estos problemas, en este trabajo se considera en profundidad el problema de la tolerancia y, al mismo tiempo, la relación de dependencia entre los distintos puntos de prueba. Se propone un método heurístico de búsqueda en grafos para facilitar el proceso de selección de los puntos de prueba. En primer lugar, se utiliza el concepto de entropía de la teoría de la información para evaluar la optimalidad del punto de prueba. La entropía se calcula utilizando los conjuntos ambiguos y la distribución de tensión defectuosa, determinados por la tolerancia de los componentes. En segundo lugar, el punto de prueba óptimo seleccionado se utiliza para ampliar el nodo gráfico actual utilizando la relación de dependencia entre el punto de prueba y el nodo gráfico. Los resultados simulados indican que el método propuesto encuentra con mayor precisión el conjunto óptimo de puntos de prueba que otros métodos; por lo tanto, es una buena solución para minimizar el tamaño del conjunto de puntos de prueba. Para simplificar y clarificar el método propuesto, en este artículo sólo se tratan los fallos catastróficos y algunos fallos paramétricos específicos.

• Materias:Matemáticas Análisis Matemático Álgebra Ingeniería Lógica matemática
• Subjects:mathematics Mathematical Analysis Algebra Engineering Mathematical logic
• Palabras claves:proceso de selección del punto de prueba, diferentes puntos de prueba, punto de prueba, problema de tolerancia, método heurístico de búsqueda en grafos, nodo del grafo de corriente, distribución de tensión defectuosa, concepto teórico de la información, punto de prueba óptimo, fallos paramétricos específicos
• Keywords:test point selection process, different test points, test point, tolerance problem, heuristic graph search method, current graph node, faulty voltage distribution, information theoretic concept, optimal test point, specific parametric faults