Resumen

Las mediciones de fase obtenidas por interferometría de alta coherencia están restringidas por la ambigüedad de 2, a diferencias de altura menores que /2. Una restricción adicional en la mayoría de los sistemas interferométricos es enfocar el sistema en el objeto medido. Presentamos dos métodos que superan estas restricciones. En el primer método, diferentes segmentos de un frente de onda medido son propagados digitalmente y enfocados localmente después de la medición. Las distancias divergentes, por las cuales los diversos segmentos del frente de onda son propagados para lograr una imagen enfocada, proporcionan suficiente información para resolver la ambigüedad de 2. El segundo método emplea un interferograma obtenido por un espectro que constituye un pequeño número de longitudes de onda. La magnitud de las modulaciones de los interferogramas se utiliza para resolver la ambigüedad de 2. Tales métodos de propagación de frente de onda permiten varias aplicaciones como el enfoque y la resolución de la ambigüedad de 2, como se

• Materias:Electrodos Nanocompuestos Nanomanipulación
• Subjects:Electrodes Nanocomposites Nanomanipulation
• Palabras claves:Medidas de fase; Interferometría de alta coherencia; Restricciones; Propagación del frente de onda; 2 ambigüedad; Interferograma
• Keywords:Phase measurements; High-coherence interferometry; Restrictions; Wavefront propagation; 2 ambiguity; Interferogram