Biblioteca122.294 documentos en línea

Artículo

An Improved EMD-Based Dissimilarity Metric for Unsupervised Linear Subspace LearningUna métrica de disimilitud basada en EMD mejorada para el aprendizaje de subespacios lineales no supervisado.

Resumen

Investigamos una nueva forma de extracción robusta de características de imágenes faciales adoptando métodos basados en Aprendizaje de Subespacios Lineales No Supervisados para extraer un pequeño número de buenas características. En primer lugar, la imagen facial se divide en bloques con el tamaño especificado, y luego proponemos y extraemos Histograma de Gradiente Orientado Agrupado (pHOG) sobre cada bloque. En segundo lugar, se adopta una métrica mejorada de Distancia de Transporte de Tierra (EMD) para medir la disimilitud entre bloques de una imagen facial y los bloques correspondientes del resto de imágenes faciales. En tercer lugar, considerando las limitaciones de las Proyecciones de Preservación de Localidad (LPP) originales, propusimos el LPP de Estructura de Bloques (BSLPP), que preserva efectivamente la información estructural de las imágenes faciales. Finalmente, se construye un grafo de adyacencia y se obtienen un pequeño número de buenas características de una imagen facial mediante métodos basados en Aprendizaje de Subespacios Line

  • Tipo de documento:
  • Formato:pdf
  • Idioma:Inglés
  • Tamaño: Kb

Cómo citar el documento

Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.

Este contenido no est� disponible para su tipo de suscripci�n

Información del documento