Resumen

La Microscopía de Fuerza Heterodina abre una vía para monitorizar eventos a nanoescala con alta sensibilidad temporal a partir de la respuesta mecánica-diodética cuasistática del cantilever aprovechando el efecto batido. Aquí se propone un nuevo método de fuerza ultrasónica heterodina, en el que el voladizo se acciona en modo de modulación de amplitud, en su modo propio de flexión fundamental. La vibración ultrasónica en el rango de megahercios se introduce adicionalmente en el contacto punta-muestra desde la base del cantilever y desde la parte posterior de la muestra. Las frecuencias ultrasónicas se eligen de forma que su diferencia coincida con el segundo modo propio del voladizo. En presencia de ultrasonidos, se detecta la vibración del cantilever a la frecuencia de diferencia. Al igual que en la microscopía de fuerza heterodina, se espera que la respuesta de fase proporcione información con mayor sensibilidad debido al efecto de batido.

• Materias:Análisis electroquímico Nanopartículas Nanoestructuras Nanocompuestos Sistema de nanopartículas Nanotubos
• Subjects:Electrochemical analysis Nanoparticles Nanostructures Nanocomposites Nanoparticle system Nanotubes
• Palabras claves:efecto batido, nuevo método de fuerza ultrasónica heterodina, microscopía de fuerza heterodina, modo propio de flexión fundamental, microscopía de fuerza heterodina, alta sensibilidad temporal, segundo modo propio del voladizo, camino, vibración ultrasónica, base del voladizo
• Keywords:beat effect, novel heterodyne ultrasonic force method, heterodyne force microscopy, fundamental flexural eigenmode, heterodyne force microscopy, high temporal sensitivity, second cantilever eigenmode, way, ultrasonic vibration, cantilever base