Resumen

Este artículo trata sobre la modelización de fallas en circuitos analógicos. Se propone primero un modelo de falla bidimensional (2D) basado en el análisis colaborativo de la corriente de suministro y el voltaje de salida. Este modelo es una familia de loci circulares en el plano complejo, y simplifica en gran medida los algoritmos para la selección de puntos de prueba y las simulaciones de fallas potenciales, que son dificultades principales en el diagnóstico de fallas en circuitos analógicos. Además, con el fin de reducir la dificultad de la localización de fallas, se propone un modelo de falla mejorado en un espacio complejo tridimensional (3D), que logra una proporción de detección de fallas (FDR) mucho mejor contra errores de medición y tolerancia paramétrica. Para abordar el problema del enmascaramiento de fallas en los modelos de falla 2D y 3D, este artículo propone un método efectivo de diseño para la testabilidad (DFT). Al agregar componentes de derivación redundantes en el circuit

• Materias:Algoritmo de búsqueda Características infrarrojas Retraso difuso Efecto de termoforesis Interpolación
• Subjects:Search algorithm Infrared features Fuzzy delay Thermophoresis effect Interpolation
• Palabras claves:Modelado; Falla; Circuitos analógicos; 2D; 3D; Capacidad de prueba
• Keywords:Modeling; Fault; Analog circuits; 2d; 3d; Testability