Presentamos un método novedoso para modelar el comportamiento de seguimiento de transistores de semiconductor que experimentan variaciones entre chips en un modelo compacto de Monte Carlo para simulaciones SPICE y mostramos una habilitación de relaciones de seguimiento simultáneas entre transistores en un chip en cualquier densidad de polisilicio, cualquier paso de puerta y cualquier ubicación física por primera vez. En separaciones más pequeñas, nuestra relación de seguimiento modelada versus ubicación física se reduce a la caracterización de Pelgrom sobre la discrepancia dependiente de la distancia del dispositivo. Nuestro método es muy compacto, ya que no utilizamos una matriz o un conjunto de soluciones propias para representar correlaciones entre transistores.
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