Resumen

La formación de imágenes y la evaporación de átomos en el microscopio de iones de campo (FIM) se han modelizado utilizando métodos de diferencias finitas para calcular la distribución de voltaje alrededor de una punta y, por tanto, la intensidad de campo eléctrico experimentada por átomos individuales. Los átomos se evaporan en función de la intensidad de campo utilizando varios modelos matemáticos diferentes que arrojan resultados muy similares. Las formas de las puntas y las imágenes FIM simuladas muestran una gran concordancia con los resultados experimentales para puntas de la misma orientación y estructura cristalina. También se han realizado cálculos para estimar los efectos en la resolución del uso de una punta de campo afilado para la microscopía de sonda de barrido.

• Materias:Sensores inalámbricos Sensor termoeléctrico Biosensores Sensores de fibra óptica
• Subjects:Wireless sensors Thermoelectric sensor Biosensors Fiber optic sensors
• Palabras claves:punta, diferentes modelos matemáticos, intensidad de campo eléctrico, microscopio iónico de campo, métodos de diferencias finitas, imágenes fim simuladas, estructura cristalina, resultados experimentales, intensidad de campo, átomos individuales
• Keywords:tip, different mathematical models, electric field strength, field ion microscope, finite difference methods, simulated fim images, crystal structure, experimental results, field strength, individual atoms