Con el objetivo de estimar el rendimiento de errores blandos SEE de sistemas electrónicos complejos, se propone un modelo de propagación de errores blandos basado en autómatas celulares y se presenta una metodología de estimación basada en la partición de circuitos y la propagación de errores. Las simulaciones indican que los principales parámetros que influyen en la vulnerabilidad del sistema son las interferencias de distinto grado de fallo y los diferentes factores de acoplamiento entre celdas. Se han desarrollado experimentos de radiación acelerada para determinar los principales parámetros de la vulnerabilidad al error blando bruto del módulo y los factores de acoplamiento. Los resultados indican que el método propuesto es viable.
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