Resumen

La técnica de microscopía de alta resolución es de gran importancia para el estudio de los nanomateriales. Es necesario comprender la interacción de campo cercano entre la sonda y los materiales del sustrato para obtener la estructura fina del nanomaterial en la escala de sub-longitud de onda. Los métodos numéricos como FDTD, FEM y MoM son ineficientes para los problemas de SNOM debido a la enfermedad de la matriz de impedancia. El método analítico sólo puede utilizarse para algunos objetos simples como la esfera. Aquí, se desarrolla un método cuasi-analítico, en el que la fórmula analítica es refinada para adaptarse a varias formas de la sonda que se acerca a la curva de SNOM. De esta manera, es útil para comparar el rendimiento de diferentes sondas y nos da una dirección para diseñar un nuevo tipo de sonda en SNOM. Como aplicación, el método desarrollado se utiliza para estudiar el contraste en el SNOM para la interfaz entre las dos superficies diferentes que tienen diferentes materiales y topografía.

• Materias:Propagación de ondas Radiofrecuencia Teoría de Antenas Redes Inalámbricas Banda ancha Ondas de radiofrecuencia
• Subjects:Wave propagation Radio frequency Antenna theory Wireless Networks Broadband Radio frequency waves
• Palabras claves:sonda de nuevo tipo, técnicas de microscopía de resolución, curva de snom, estructura fina, matriz de impedancia, sonda, superficie diferente, material del sustrato, material diferente, objeto simple
• Keywords:new type probe, resolution microscopy techniques, curve of snom, fine structure, impedance matrix, probe, different surface, substrate material, different material, simple object