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Artículo

Modular Motion-Structure Design Model for Planetary Surface SamplingModelo de diseño de estructura de movimiento modular para el muestreo de la superficie planetaria

Resumen

Dado que las restricciones en el espacio son menores, durante el proceso de muestreo de la superficie planetaria se pueden utilizar diferentes patrones de movimiento y estructuras de equipos. Tradicionalmente, el análisis óptimo para el muestreo de la superficie se centra en estructuras y movimientos específicos del equipo; en cambio, en este artículo se analiza un nuevo modelo modular de diseño de movimiento-estructura para el muestreo de la superficie, que es un modelo más flexible. Al establecer y combinar dos grupos de módulos básicos, a saber, el grupo de movimiento y el grupo de estructura, este nuevo modelo de diseño puede definir y analizar múltiples patrones y estructuras de movimiento. Para el grupo de movimiento, el cálculo de la trayectoria de muestreo es el objetivo principal, en el que hay dos módulos básicos: movimientos rectilíneos uniformes tridimensionales y movimientos circulares uniformes tridimensionales. Los dos módulos básicos de movimiento pueden combinarse libremente en un sistema de coordenadas determinado para simular una trayectoria de muestreo aleatoria. El grupo de estructuras contiene una serie de placas curvas y planas, que pueden definirse mediante un conjunto de parámetros unificados (incluidos los parámetros de sección, extensión y corte). Asignando diferentes valores a estos parámetros, las placas curvas o planas pueden representar diferentes formas externas. Las diferentes estructuras de los distintos equipos de muestreo de superficies pueden simularse combinando estas diferentes placas. Además de definir estos módulos básicos, el análisis del acoplamiento entre los distintos módulos, que puede simplificarse a la relación entre la velocidad y la superficie, desempeña un papel importante en el establecimiento de este modelo de diseño. Basado en la teoría del diseño modular, este nuevo modelo no sólo reducirá la dificultad del análisis, sino que también mejorará la precisión del muestreo de la superficie planetaria.

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