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Novel BCD Process Platform with Integrated Self-Extracted JTE Trench Technology for EL Drivers ICsNueva plataforma de proceso BCD con tecnología de zanja JTE autoextraíble integrada para circuitos integrados de controladores EL

Resumen

Se propone una tecnología BCD de silicio de bajo coste en lugar de la tecnología BCD SOI de alto coste para la aplicación de circuitos integrados monolíticos EL driver. Se presentan varias tecnologías clave. Se diseñó una tecnología avanzada de terminación SEJTET en lugar del aislamiento PIOS convencional para obtener una menor área de chip y proteger los HVIC de la aparición del efecto di/dt en funcionamiento PWM. Se desarrollaron nuevos dispositivos VDMOS/Resurf LDPMOS compatibles para obtener la menor R on , sp , mejorar la utilización del silicio y simplificar los pasos clave del proceso.

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