Este trabajo propone un nuevo método para la detección de defectos superficiales en módulos fotovoltaicos basado en el algoritmo de reconstrucción de análisis de componentes independientes (ICA). En primer lugar, se utiliza una imagen sin defectos como imagen de entrenamiento. La matriz de desmezcla y los CI correspondientes se obtienen aplicando el ICA en la imagen de entrenamiento. A continuación, se reordenan los CI según los valores de rango y se reforma la matriz de desmezcla. A continuación, la matriz de desmezcla reformada se utiliza para reconstruir la imagen defectuosa. La imagen resultante puede eliminar las estructuras de fondo y realzar las anomalías locales. Los resultados experimentales han demostrado que el método propuesto puede detectar eficazmente la presencia de defectos en superficies con patrones periódicos.
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