Biblioteca122.739 documentos en línea

Artículo

Optimal Scheme for Process Quality and Cost Control by Integrating a Continuous Sampling Plan and the Process Yield IndexEsquema óptimo para el control de calidad del proceso y costos mediante la integración de un plan de muestreo continuo y el índice de rendimiento del proceso.

Resumen

El plan de muestreo continuo de un solo nivel (CSP-1) es una herramienta de control de proceso en línea que ha sido comúnmente adoptada en varias industrias manufactureras. Sin embargo, el CSP-1 está diseñado únicamente para satisfacer la restricción de calidad. Al mismo tiempo, el CSP-1 tiene desventajas con altas probabilidades de errores de Tipo I y Tipo II debido a su deficiencia inherente proveniente del procedimiento operativo. En este trabajo, se propone un esquema óptimo para el control de calidad y costos del proceso para monitorear el costo del proceso y mejorar la calidad del mismo. El CSP-1 y el índice de rendimiento del proceso () se integran en el esquema propuesto, los cuales funcionan de forma independiente y complementaria. Los cuatro parámetros (número de autorización, fracción de inspección, tamaño de muestra y valor crítico) están diseñados en el esquema propuesto considerando simultáneamente las restricciones de calidad y costos. Se encuentra y utiliza el único esquema de inspección factible en CSP-

  • Tipo de documento:
  • Formato:pdf
  • Idioma:Inglés
  • Tamaño: Kb

Cómo citar el documento

Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.

Este contenido no est� disponible para su tipo de suscripci�n

Información del documento