Resumen

Las películas finas amorfas de CeO2 se depositaron mediante un método de recubrimiento por inmersión sobre sustratos de vidrio Corning y se recocieron durante una hora a las temperaturas (T) de 250, 450 y 550°C en aire para su cristalización. La solución precursora se preparó disolviendo acetato de cerio en metanol, ácido láctico, glicerol y trimetilamina a 55°C. Los patrones de difracción de rayos X (DRX) mostraron la estructura cúbica del CeO2. A partir de los datos de DRX y empleando la fórmula de Scherrer, se calculó que el tamaño de los cristalitos (CS) estaba comprendido entre 4,0±0,5 y 10±1 nm. Las micrografías SEM revelaron grietas en las películas recocidas a 250 y 450°C, aunque para 550°C, la película muestra una morfología homogénea libre de grietas. El CS aumenta (de 4,0 a 10 nm) y el espesor disminuye (de 217 a 182 nm) al aumentar T. Los espectros UV-vis mostraron una transmitancia media del 80% en el rango de longitudes de onda de 300 a 2000 nm. Asimismo, a partir de la DRX, se observó que la red se encoge y, a partir de la transmitancia, que la energía de banda prohibida aumenta con T. Los espectros Raman muestran 461 cm-1 asignados al modo F2g de la estructura cúbica de la fluorita, donde F2g se endurece cuando aumenta T como efecto de la contracción de la red.

• Materias:Biotecnología Análisis electroquímico Bioingeniería Nanocompuestos Nanotubos
• Subjects:Biotechnology Electrochemical analysis Bioengineering Nanocomposites Nanotubes
• Palabras claves:películas delgadas amorfas de ceo2, sustratos de vidrio corning, modo f2g, aumentos de energía de bandgap, estructura cúbica de fluorita, rango de longitud de onda nm, xrd, grietas, red, aumentos de cs
• Keywords:amorphous ceo2 thin films, corning glass substrates, f2g mode, bandgap energy increases, fluorite cubic structure, nm wavelength range, xrd, cracks, lattice, cs increases