Resumen

La prueba de degradación acelerada (ADT) se ha utilizado ampliamente para evaluar la vida útil de los productos de alta fiabilidad. Para realizar un ADT, es necesario determinar de antemano un modelo de degradación y un plan de pruebas adecuados. Aunque muchos estudios históricos han propuesto bastantes modelos, todavía hay margen de mejora. Por lo tanto, proponemos un modelo de Proceso de Wiener Generalizado No Lineal (NGWP) que tiene en cuenta los efectos del nivel de estrés, la variabilidad entre productos y los errores de medición para obtener una mayor precisión de estimación y un rango de uso más amplio. A continuación, bajo las restricciones de tamaño de la muestra, duración de la prueba y coste de la prueba, se diseñan los planes de ADT de tensión constante (CSADT) con múltiples niveles de tensión basados en el NGWP minimizando la varianza asintótica de la estimación de la fiabilidad de los productos en condiciones normales de funcionamiento. Se desarrolla un algoritmo de optimización para determinar simultáneamente los niveles de estrés óptimos, el número de unidades asignadas a cada nivel, la frecuencia de inspección y los tiempos de medición. Además, se realiza una comparación basada en datos de degradación de LEDs para mostrar una mejor bondad de ajuste del NGWP que la de otros modelos. Por último, en este artículo se muestran ejemplos de planes CSADT óptimos de dos y tres niveles con diversas restricciones y un análisis de sensibilidad detallado.

• Materias:Análisis Matemático Matemáticas Algebra Ingeniería Lógica matemática
• Subjects:Mathematical Analysis mathematics Algebra Engineering Mathematical logic
• Palabras claves:Prueba de degradación acelerada; modelo de degradación; plan de pruebas; Proceso de Wiener Generalizado No Lineal (NGWP); nivel de estrés; estimación de la fiabilidad.
• Keywords:Accelerated degradation test; degradation model; test plan; Nonlinear Generalized Wiener Process (NGWP); stress level; reliability estimation