Para la coincidencia de plantilla global (GTM), que se utiliza comúnmente en el posicionamiento de sujetadores de riel, solo se utiliza la plantilla de sujetador para buscar la imagen global en ambas dimensiones, lo que resultará en errores en dos dimensiones y causará una menor precisión de posicionamiento. En este documento se propone un método de posicionamiento para sujetadores de riel basado en la coincidencia de doble plantilla (DTM), en el cual la doble plantilla contiene la plantilla de riel y la plantilla de sujetador. Primero, se utiliza la plantilla de riel para escanear la imagen original en la dimensión horizontal, y se utiliza la distancia euclidiana cuadrada (SED) para obtener el posicionamiento del riel en la imagen original. Combinando con el conocimiento previo de la imagen de la plantilla de sujetador, se puede obtener la imagen compuesta por el riel y el sujetador, que en este documento se llama Mapa de Área de Riel (RAM). Luego, después de preprocesar el RAM y la imagen de la plantilla de sujetador, se utiliza
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