Resumen

Presentamos un marco de postprocesamiento de imágenes para Microscopio de Exploración de Túnel (STM) para reducir las fuertes oscilaciones espurias y el ruido de línea de escaneo a velocidades de escaneo rápidas y preservar las características, permitiendo un aumento de un orden de magnitud en la velocidad de escaneo sin necesidad de actualizar el hardware. El método propuesto consta de dos pasos para imágenes a gran escala y cuatro pasos para imágenes a escala atómica. Para imágenes a gran escala, primero aplicamos para cada línea un método de registro de imagen para alinear los escaneos hacia adelante y hacia atrás de la misma línea. En el segundo paso aplicamos un modelo de banda de goma que se resuelve mediante un novedoso Algoritmo de Filtrado Adaptativo e Iterativo Constrained (CIAFA). Los resultados numéricos en mediciones de la superficie de cobre(111) indican que las imágenes procesadas son comparables en precisión a los datos obtenidos con una velocidad de escaneo lenta, pero están libres del error de deriva

• Materias:Electrodos Nanocompuestos Nanomanipulación
• Subjects:Electrodes Nanocomposites Nanomanipulation
• Palabras claves:Marco de postprocesamiento de imágenes; Microscopio de efecto túnel; Velocidad de barrido; Oscilaciones espurias; Ruido en la línea de barrido; Imágenes a escala atómica
• Keywords:Image postprocessing framework; Scanning Tunneling Microscope; Scan rate; Spurious oscillations; Scan line noise; Atomic scale images