Resumen

El pronóstico de un dispositivo electrónico bajo condiciones de vibración puede ayudar a obtener información para asistir en el mantenimiento basado en condiciones y reducir el costo del ciclo de vida. Se propone un método de pronóstico y predicción de vida restante para dispositivos electrónicos bajo condiciones de vibración aleatoria. La respuesta a la vibración se mide y monitorea con un sensor de aceleración y parámetros OMA, incluida la frecuencia de resonancia de la vibración, especialmente la frecuencia de resonancia de primer orden, y el coeficiente de amortiguamiento se calcula con el método de densidad espectral de potencia cruzada (CPSD) y el algoritmo de identificación de parámetros modales (MPI). Se utiliza el modelo de fatiga por vibración de Steinberg que considera el factor de transmisibilidad para predecir la vida restante del componente electrónico. Se lleva a cabo un estudio de caso con una placa de prueba y se predice la vida restante. Los resultados muestran que con este método se puede monitorear y predecir las características de respuesta a la vibración.

• Materias:Degradación acelerada Fatiga estructural Proceso de compresión Metodología de detección Movimiento caótico
• Subjects:Accelerated degradation Structural fatigue Compression process Detection methodology Chaotic motion
• Palabras claves:Dispositivo electrónico; Condición de vibración; Pronóstico; Predicción de vida restante; Sensor de aceleración; Frecuencia de resonancia de vibración
• Keywords:Electronic device; Vibration condition; Prognostic; Remaining life prediction; Acceleration sensor; Vibration resonance frequency