Resumen

Se prepararon con éxito películas de óxido de grafeno (GO) con estructura bidimensional mediante el método Hummer modificado. Se ha demostrado que el método redox es una forma prometedora de sintetizar películas de GO a gran escala. Se realizaron caracterizaciones exhaustivas de las propiedades de las películas de GO. Los análisis TEM y DFM mostraron que las láminas de GO preparadas en este estudio tenían una estructura de capa laminar simple y doble y un grosor de 2~3 nm. Se seleccionó la difracción de rayos X (XRD) para medir la estructura cristalina de la lámina de GO. Se utilizó el analizador de espectros infrarrojos con transformada de Fourier (FT-IR) para certificar la presencia de grupos funcionales que contienen oxígeno en las láminas de GO. Las pruebas del espectrómetro UV-VIS y del analizador TGA indicaron que la lámina de GO poseía una excelente respuesta óptica y una extraordinaria estabilidad térmica. El analizador elemental (EA) y el espectroscopio de fotoelectrones de rayos X (XPS) analizaron los componentes del material sintético. Simultáneamente, en este estudio se describió la estructura química de la lámina de GO. Se ofrecen comentarios y referencias para futuras investigaciones sobre el grafeno.

• Materias:Análisis electroquímico Nanotecnología Nanopartículas Nanomateriales Nanosensores
• Subjects:Electrochemical analysis Nanotechnology Nanoparticles Nanomaterials Nanosensors
• Palabras claves:películas go, láminas go, estructura de doble capa laminar, excelente respuesta óptica, analizador de espectros infrarrojos, extraordinaria estabilidad térmica, espectroscopio fotoelectrónico de rayos, estudio, caracterizaciones exhaustivas, análisis dfm
• Keywords:go films, go sheet, double lamellar layer structure, excellent optical response, infrared spectra analyzer, outstanding thermal stability, ray photoelectron spectroscope, study, comprehensive characterizations, dfm analyses