Resumen

La prueba de escaneo se utiliza ampliamente en la prueba de circuitos integrados. Sin embargo, la excelente observabilidad y controlabilidad proporcionadas por la prueba de escaneo brindan a los atacantes la oportunidad de obtener información sensible mediante el uso del diseño de escaneo para amenazar la seguridad del circuito. Por lo tanto, la motivación principal de este artículo es mejorar la técnica de DFT existente, es decir, mejorar la seguridad del chip con la premisa de garantizar la calidad de la prueba. En este documento, proponemos un nuevo método de diseño de escaneo contra ataques de canal lateral basados en escaneo. En el método propuesto, se adopta una estructura de cifrado que requiere el código de autorización de prueba correcto para llevar a cabo la operación de prueba normal. Sin la autorización de prueba correcta, los atacantes no pueden obtener los datos de escaneo deseados, lo que evita los ataques de canal lateral basados en escaneo. Además, el código de autorización de prueba se determina mediante la memoria no volátil incorporada en el chip para lograr la inconsistencia del

• Materias:Cifrado de búsqueda Seguridad informática Reconstrucción virtual Detección de intrusos Sistema de programación
• Subjects:Search encryption Computer security Virtual reconstruction Intrusion detection Programming system
• Palabras claves:Prueba de escaneado; Circuito integrado; Seguridad; Diseño de escaneado; Ataque de canal lateral; Código de autorización de prueba
• Keywords:Scan test; Integrated circuit; Security; Scan design; Side-channel attack; Test authorization code