Las películas delgadas heteroestructuradas de circona estabilizada con itria (YSZ)/titanato de estroncio (STO)/YSZ con diversos espesores se depositaron sobre sustrato monocristalino de MgO mediante el método de deposición por láser pulsado (PLD). Las propiedades estructurales y eléctricas de la heteroestructura YSZ/STO/YSZ se estudiaron mediante difracción de rayos X (DRX) y medidas de conductividad eléctrica. Se midieron las conductividades en el plano de las películas delgadas y se compararon con las de la muestra a granel. Las conductividades más altas se registraron en las muestras con las capas más finas de YSZ (220). La mejora observada en la conductividad iónica lateral fue probablemente causada por la combinación de la densidad de dislocaciones desajustadas y la tensión elástica en las interfaces. La mejora de la movilidad iónica se discutió en términos del desorden introducido en la subred de oxígeno a través de la deformación epitaxial en las interfaces.
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