Resumen

Este artículo tiene como objetivo determinar las características de un sistema de medición. Las mediciones fueron ejecutadas con un micrómetro digital calibrado y los resultados demostraron la baja capacidad del proceso. Los datos se evaluaron mediante análisis de incertidumbre, análisis de sistema de medición y kappa de cohen mostrando que el número de ejes que no cumplen con los requerimientos aumenta a medida que disminuye la capacidad de medición. Una de las opciones para corregir el error es mejorar el desempeño del instrumento de medición con capacitación y supervisión de los evaluadores metrológicos. La repetición de las mediciones dio como resultado el aumento del valor de los índices de capacidad y una disminución del número de ejes fuera de los parámetros establecidos.

• Materias:Metrología Medición Instrumentos de medición Estimación de parámetros
• Subjects:Metrology Mensuration Measuring instruments Parameter estimation
• Palabras claves: Índices de capacidad; MSA; Kappa de Cohen; Diagrama de Ishikawa
• Keywords:Capability indices; MSA; Cohen’s kappa; Ishikawa diagram