Se investigó la evolución microestructural y las propiedades de dureza y físicas de una aleación Cu-Hf en las diferentes etapas de procesamiento utilizando mediciones de dureza, conductividad y tracción, microscopía metalográfica, microscopía electrónica de barrido y microscopía electrónica de transmisión. Los resultados revelan que la conductividad eléctrica de estas aleaciones estaba por encima del 80% IACS después del envejecimiento a 450°C, y la dureza y conductividad de la aleación Cu-0.9Hf fueron de 180HV0.5 y 80% IACS, respectivamente. La temperatura de ablandamiento de la aleación Cu-0.15Hf es de 525°C, y la temperatura de ablandamiento de las aleaciones Cu-0.4Hf y Cu-0.9Hf es de 550°C. La fase precipitada que contiene Hf mostró una estructura corta en forma de varilla, cuyo tamaño aumentó con el tiempo de envejecimiento a una tasa lenta y resultó en un tamaño de ~20
Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.
Artículo:
Esteganografía basada en caos, aplicada en la reclamación de origen en imágenes capturadas por drones
Artículo:
Calibración en línea de un sistema de antenas basado en LTE
Artículo:
Simulación y análisis de las características de la propagación de la luz visible en interiores, basada en el método de SBR/Imagen
Artículo:
STAP asistido por el conocimiento utilizando propiedades de bajo rango y geometría
Artículo:
Síntesis de patrones óptimos de matrices lineales y diseño de banda ancha de antenas de látigo utilizando el algoritmo de optimización Grasshopper