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Photonic Material Selection of Scintillation Crystals Using Monte Carlo Method for X-Ray Detection in Industrial Computed TomographySelección del material fotónico de los cristales de centelleo mediante el método Monte Carlo para la detección de rayos X en tomografía computerizada industrial

Resumen

En la actualidad, el sistema X-CT industrial se diseña en función de las características de los objetos de prueba, y los objetos de prueba determinan la estructura del sistema X-CT industrial, las propiedades del detector/sensor de rayos X, el modo de exploración, etcétera. Por lo tanto, no existen normas uniformes para el tamaño geométrico de los cristales de centelleo del detector. Además, los cristales de centelleo suelen estar mezclados con algunos elementos de impureza altamente tóxicos, como Tl y Cd. Por lo tanto, es indispensable establecer directrices de prácticas de ingeniería para simular las prestaciones de detección de rayos X de diferentes cristales de centelleo. Este artículo se centra en cómo conseguir una detección de rayos X de alta eficiencia en un sistema industrial de X-CT que utiliza el método Monte Carlo (MC) para estudiar las características de retardo de la energía de rayos X, la eficiencia del pico de energía total y la eficiencia de conversión de algunos cristales de centelleo (por ejemplo, CsI(Tl), NaI(Tl) y CdWO4) después de que los rayos X interactúen con estos cristales de centelleo. Nuestros resultados experimentales demuestran que el cristal de centelleo CsI(Tl) tiene las ventajas de la eficiencia de conversión, la coincidencia espectral, el proceso de fabricación y la eficiencia de pico de energía completa; es una opción ideal para la detección de rayos X de alta eficiencia en el sistema industrial X-CT.

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